SN74LVTH182512DGGR
僅供參考
| 型號 | SN74LVTH182512DGGR |
| PNEDA編號 | SN74LVTH182512DGGR |
| 描述 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 單價 | 請求報價 |
| 庫存 | 4,932 |
| 倉庫 | Shipped from Hong Kong SAR |
| 預計交貨 | 十一月 17 - 十一月 22 (選擇加急運輸) |
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SN74LVTH182512DGGR資源
| 品牌 | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| 制造商零件編號 | SN74LVTH182512DGGR |
| 類別 | 半導體 › 邏輯IC › 邏輯-專業邏輯 |
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SN74LVTH182512DGGR規格
| 制造商 | |
| 系列 | 74LVTH |
| 邏輯類型 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| 電源電壓 | 2.7V ~ 3.6V |
| 位數 | 18 |
| 工作溫度 | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型 | Surface Mount |
| 包裝/箱 | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| 供應商設備包裝 | 64-TSSOP |
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