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SN74LVTH182652APM

SN74LVTH182652APM

僅供參考

型號 SN74LVTH182652APM
PNEDA編號 SN74LVTH182652APM
描述 IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
制造商 Texas Instruments
單價
1 ---------- $122.7995
50 ---------- $117.0433
100 ---------- $111.2870
200 ---------- $105.5308
400 ---------- $100.7340
500 ---------- $95.9371
庫存 2,504
倉庫 Shipped from Hong Kong SAR
預計交貨 十一月 3 - 十一月 8 (選擇加急運輸)
Guarantee 可達壹年的[PNEDA-Warranty]*

SN74LVTH182652APM資源

品牌 Texas Instruments
ECAD Module ECAD
制造商零件編號SN74LVTH182652APM
類別半導體邏輯IC邏輯-專業邏輯

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SN74LVTH182652APM規格

制造商
系列74LVTH
邏輯類型ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
電源電壓2.7V ~ 3.6V
位數18
工作溫度-40°C ~ 85°C
安裝類型Surface Mount
包裝/箱64-LQFP
供應商設備包裝64-LQFP (10x10)

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74SSTV

邏輯類型

Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR

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8-SOIC

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