SN74LVTH182652APM
僅供參考
型號 | SN74LVTH182652APM | ||||||||||||||||||
PNEDA編號 | SN74LVTH182652APM | ||||||||||||||||||
描述 | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | ||||||||||||||||||
制造商 | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
單價 |
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庫存 | 2,504 | ||||||||||||||||||
倉庫 | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
預計交貨 | 十一月 3 - 十一月 8 (選擇加急運輸) | ||||||||||||||||||
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SN74LVTH182652APM資源
品牌 | Texas Instruments |
ECAD Module | |
制造商零件編號 | SN74LVTH182652APM |
類別 | 半導體 › 邏輯IC › 邏輯-專業邏輯 |
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SN74LVTH182652APM規格
制造商 | |
系列 | 74LVTH |
邏輯類型 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
電源電壓 | 2.7V ~ 3.6V |
位數 | 18 |
工作溫度 | -40°C ~ 85°C |
安裝類型 | Surface Mount |
包裝/箱 | 64-LQFP |
供應商設備包裝 | 64-LQFP (10x10) |
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