8V182512IDGGREP
僅供參考
| 型號 | 8V182512IDGGREP |
| PNEDA編號 | 8V182512IDGGREP |
| 描述 | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 單價 | 請求報價 |
| 庫存 | 2,016 |
| 倉庫 | Shipped from Hong Kong SAR |
| 預計交貨 | 十一月 3 - 十一月 8 (選擇加急運輸) |
| Guarantee | 可達壹年的[PNEDA-Warranty]* |
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8V182512IDGGREP資源
| 品牌 | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| 制造商零件編號 | 8V182512IDGGREP |
| 類別 | 半導體 › 邏輯IC › 邏輯-專業邏輯 |
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8V182512IDGGREP規格
| 制造商 | |
| 系列 | - |
| 邏輯類型 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| 電源電壓 | 2.7V ~ 3.6V |
| 位數 | 18 |
| 工作溫度 | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型 | Surface Mount |
| 包裝/箱 | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| 供應商設備包裝 | 64-TSSOP |
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