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SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

僅供參考

型號 SN74BCT8240ANTG4
PNEDA編號 SN74BCT8240ANTG4
描述 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
制造商 Texas Instruments
單價 請求報價
庫存 4,788
倉庫 Shipped from Hong Kong SAR
預計交貨 六月 18 - 六月 23 (選擇加急運輸)
Guarantee 可達壹年的[PNEDA-Warranty]*

SN74BCT8240ANTG4資源

品牌 Texas Instruments
ECAD Module ECAD
制造商零件編號SN74BCT8240ANTG4
類別半導體邏輯IC邏輯-專業邏輯

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SN74BCT8240ANTG4規格

制造商
系列74BCT
邏輯類型Scan Test Device with Inverting Buffers
電源電壓4.5V ~ 5.5V
位數8
工作溫度0°C ~ 70°C
安裝類型Through Hole
包裝/箱24-DIP (0.300", 7.62mm)
供應商設備包裝24-PDIP

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安裝類型

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邏輯類型

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制造商

Microchip Technology

系列

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邏輯類型

Differential Receiver

電源電壓

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位數

1

工作溫度

-40°C ~ 85°C

安裝類型

Surface Mount

包裝/箱

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供應商設備包裝

10-MSOP

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制造商

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系列

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邏輯類型

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電源電壓

2.3V ~ 2.7V

位數

13, 26

工作溫度

0°C ~ 70°C

安裝類型

Surface Mount

包裝/箱

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

供應商設備包裝

64-TSSOP

MC10EP17DW

ON Semiconductor

制造商

ON Semiconductor

系列

10EP

邏輯類型

Differential Receiver/Driver

電源電壓

3V ~ 5.5V

位數

4

工作溫度

-40°C ~ 85°C

安裝類型

Surface Mount

包裝/箱

20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

供應商設備包裝

20-SOIC

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