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SN74LVTH182502APMR

SN74LVTH182502APMR

僅供參考

型號 SN74LVTH182502APMR
PNEDA編號 SN74LVTH182502APMR
描述 IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
制造商 Texas Instruments
單價 請求報價
庫存 5,778
倉庫 Shipped from Hong Kong SAR
預計交貨 六月 12 - 六月 17 (選擇加急運輸)
Guarantee 可達壹年的[PNEDA-Warranty]*

SN74LVTH182502APMR資源

品牌 Texas Instruments
ECAD Module ECAD
制造商零件編號SN74LVTH182502APMR
類別半導體邏輯IC邏輯-專業邏輯

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SN74LVTH182502APMR規格

制造商
系列74LVTH
邏輯類型ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
電源電壓2.7V ~ 3.6V
位數18
工作溫度-40°C ~ 85°C
安裝類型Surface Mount
包裝/箱64-LQFP
供應商設備包裝64-LQFP (10x10)

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