邏輯IC

SN74BCT8240ANT

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Inverting Buffers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8240ANTG4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Inverting Buffers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8244ADW

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Buffers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8244ADWR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Buffers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8244ANT

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Buffers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8244ANTG4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Buffers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8245ADW

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8245ADWR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8245ANT

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8245ANTG4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8373ADW

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Latches
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8373ADWR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Latches
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Latches
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8373ADWRG4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Latches
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8373ANT

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Latches
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8374ADW

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8374ADWR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8374ADWRE4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8374ADWRG4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 24-SOIC

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SN74BCT8374ANT

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74BCT8374ANTG4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

• 制造商:
• 系列: 74BCT
• 邏輯類型: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 24-PDIP

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SN74F1016DW

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
• 電源電壓: -
• 位數: 16
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 20-SOIC

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SN74F1016DWR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
• 電源電壓: -
• 位數: 16
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 供應商設備包裝: 20-SOIC

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SN74F1056D

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
• 電源電壓: -
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
• 供應商設備包裝: 16-SOIC

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SN74F1056DR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
• 電源電壓: -
• 位數: 8
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
• 供應商設備包裝: 16-SOIC

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SN74F283D

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Binary Full Adder with Fast Carry
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 4
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
• 供應商設備包裝: 16-SOIC

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SN74F283DR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Binary Full Adder with Fast Carry
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 4
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
• 供應商設備包裝: 16-SOIC

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SN74F283N

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC 4-BIT BIN FULL ADDER 16-DIP

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Binary Full Adder with Fast Carry
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 4
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Through Hole
• 包裝/箱: 16-DIP (0.300", 7.62mm)
• 供應商設備包裝: 16-PDIP

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SN74F283NSR

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Binary Full Adder with Fast Carry
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 4
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 16-SOIC (0.209", 5.30mm Width)
• 供應商設備包裝: 16-SO

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SN74F283NSRE4

Texas Instruments

邏輯-專業邏輯

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO

• 制造商:
• 系列: 74F
• 邏輯類型: Binary Full Adder with Fast Carry
• 電源電壓: 4.5V ~ 5.5V
• 位數: 4
• 工作溫度: 0°C ~ 70°C
• 安裝類型: Surface Mount
• 包裝/箱: 16-SOIC (0.209", 5.30mm Width)
• 供應商設備包裝: 16-SO

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